半導體粉末電阻率測試儀  TP28-FZ-2006A

1.測量范圍：電阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小電阻分辨率：0.1mΩ。
3.測量 差：0.3%讀數(shù)±2字。
4.數(shù)字電壓表：3檔量程（20mV200mV2V)。
5.直流恒流源：5檔量程（10μA100μA1mA10mA100mA)。
6.顯示：3?位數(shù)字顯示0--1999，自動顯示小數(shù)點、單位、極性和過載。

半導體粉末電阻率測試儀  TP28-FZ-2006A

7. 粉末測量：
①.試樣粒度：標準篩網(wǎng)40目以上直至納米材料。
②.試樣容器：內(nèi)腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜（可選件）。
③.試樣高度：6--20㎜±0.1㎜；測量 差±0.1㎜。
④.取樣壓力：8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。壓力量程0--200㎏可調(diào)。
8.電源：交流220V±10%，50HZ或60HZ,功率﹤50W。
9.電氣箱外形尺寸：440×320×120㎜。

1.測量范圍：電阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小電阻分辨率：0.1mΩ。
3.測量 差：0.3%讀數(shù)±2字。
4.數(shù)字電壓表：3檔量程（20mV200mV2V)。
5.直流恒流源：5檔量程（10μA100μA1mA10mA100mA)。
6.顯示：3?位數(shù)字顯示0--1999，自動顯示小數(shù)點、單位、極性和過載。

半導體粉末電阻率測試儀  TP28-FZ-2006A

7. 粉末測量：
①.試樣粒度：標準篩網(wǎng)40目以上直至納米材料。
②.試樣容器：內(nèi)腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜（可選件）。
③.試樣高度：6--20㎜±0.1㎜；測量 差±0.1㎜。
④.取樣壓力：8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。壓力量程0--200㎏可調(diào)。
8.電源：交流220V±10%，50HZ或60HZ,功率﹤50W。
9.電氣箱外形尺寸：440×320×120㎜。